什么是原子力顯微鏡?

原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）是一種利用探針與樣品表面原子間相互作用力來觀測物體表面納米級形貌和特性的高分辨率掃描探針顯微鏡。其分辨率可達(dá)原子級別（橫向約0.1-1 nm，縱向約0.01 nm），廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域。

核心原理

AFM通過一個尖銳的探針（通常由硅或氮化硅制成，針尖曲率半徑僅幾納米）在樣品表面進(jìn)行掃描。探針固定在微懸臂上，當(dāng)針尖接近樣品表面時，會受到原子間作用力（如范德華力、靜電力和化學(xué)鍵力等），導(dǎo)致微懸臂發(fā)生彎曲或偏轉(zhuǎn)。通過檢測這種微小的形變，可反演出樣品表面的三維形貌及物理特性。

工作模式

1. 接觸模式
   探針與樣品表面輕微接觸，通過懸臂的偏轉(zhuǎn)直接反映表面高度變化。適用于硬質(zhì)樣品，但可能損傷柔軟樣品。

2. 非接觸模式
   探針在樣品表面上方振動（距離約1-10 nm），通過監(jiān)測振幅或頻率變化檢測長程作用力（如范德華力）。對樣品無損傷，但分辨率較低。

3. 輕敲模式
   探針以高頻振動周期性輕觸樣品表面，兼具高分辨率和低損傷的特點(diǎn)，尤其適用于生物樣品等柔軟材料。

主要組成部分

• 探針與微懸臂：核心傳感部件，通常帶有反射涂層。

• 激光系統(tǒng)：激光照射懸臂末端，反射至光電探測器，將懸臂偏轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)化為電信號。

• 壓電掃描器：控制探針或樣品在三維方向精確移動。

• 反饋系統(tǒng)：實(shí)時調(diào)節(jié)探針與樣品間距，保持作用力恒定以生成形貌圖像。

核心功能與特點(diǎn)

• 超高分辨率：可觀測原子、分子結(jié)構(gòu)。

• 多環(huán)境適用：可在真空、液體、氣體環(huán)境中工作，便于生物活體研究。

• 多功能性：除形貌外，還能測量表面力學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)等性質(zhì)（如硬度、粘附力、電勢分布）。

• 無需特殊處理：樣品通常無需導(dǎo)電或鍍膜，優(yōu)于電子顯微鏡。

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 材料科學(xué)：納米材料形貌分析、薄膜粗糙度測量。

• 生物學(xué)：DNA、蛋白質(zhì)、細(xì)胞結(jié)構(gòu)成像，研究分子間作用力。

• 半導(dǎo)體工業(yè)：芯片表面缺陷檢測、納米結(jié)構(gòu)尺寸測量。

• 納米技術(shù)：操縱原子或分子，構(gòu)建納米結(jié)構(gòu)。