膜厚計(jì)的應(yīng)用

漆膜測(cè)厚儀主要用于測(cè)量涂漆表面漆膜的厚度。油漆應(yīng)用于許多日常用品，例如家用電器、汽車和其他日常用品，不僅可以保持美麗的外觀，還可以增加耐用性。

漆膜厚度必須適當(dāng)、均勻。如果漆膜厚度不合適，即漆膜太厚，會(huì)產(chǎn)生龜裂，太薄，會(huì)造成變色、失光、基面變質(zhì)等問題。此外，如果材質(zhì)不均勻，耐久性也會(huì)因地點(diǎn)而異，從而導(dǎo)致無(wú)法保持質(zhì)量等問題。

因此，出于質(zhì)量控制的目的，通常的做法是使用膜厚儀來(lái)測(cè)量和控制各種產(chǎn)品上漆膜的膜厚。膜厚計(jì)有多種類型，根據(jù)測(cè)量對(duì)象使用適當(dāng)?shù)难b置。例如，當(dāng)測(cè)量透明薄膜的厚度時(shí)，使用使用寬帶光的光譜干涉膜厚計(jì)或使用紅外光的紅外膜厚計(jì)。

然而，這些方法不能用于金屬，因?yàn)樗鼈儾辉试S光穿過(guò)它們。測(cè)量金屬鍍層等薄膜時(shí)，適合利用磁通量變化的電磁式膜厚計(jì)或利用渦流的渦流式膜厚計(jì)。此外，如果難以觸摸被測(cè)物體，也可使用超聲波涂層測(cè)厚儀等非接觸式涂層測(cè)厚儀。

膜厚計(jì)原理

膜厚計(jì)的測(cè)量方法有多種，根據(jù)測(cè)量對(duì)象使用合適的裝置。以下五種方法具有代表性。

1、光譜干涉膜厚儀

這是利用光干涉的膜厚計(jì)。當(dāng)光線進(jìn)入待測(cè)物體時(shí)，會(huì)在薄膜的正面和背面發(fā)生反射。這兩個(gè)反射光之間存在相移，并且該相移的發(fā)生取決于薄膜的厚度。當(dāng)波同相位重疊時(shí)，它們會(huì)相互增強(qiáng)，而當(dāng)它們以相反相位重疊時(shí)，它們會(huì)相互減弱，因此可以通過(guò)測(cè)量這種干涉差來(lái)測(cè)量厚度。

2、紅外膜厚儀

這是利用紅外線被測(cè)量對(duì)象物吸收的原理的膜厚計(jì)。當(dāng)用紅外線照射待測(cè)物體時(shí)，根據(jù)待測(cè)物體的材料和厚度，特定波長(zhǎng)的紅外線被吸收。該特性用于根據(jù)通過(guò)劃分透射光或反射光獲得的光譜來(lái)測(cè)量薄膜厚度。通過(guò)預(yù)先測(cè)量被測(cè)材料的吸收率與膜厚的關(guān)系，可以計(jì)算出被測(cè)材料的膜厚。

3、電磁膜厚計(jì)

這是利用磁通密度變化的膜厚計(jì)。當(dāng)測(cè)量目標(biāo)形成在磁性金屬表面上時(shí)，使用這種測(cè)量方法，并且磁通量利用了密度變化的事實(shí)。但只有當(dāng)被測(cè)物體與金屬接觸時(shí)才能使用，且被測(cè)物體不是金屬。

4.渦流膜厚計(jì)

渦流膜厚計(jì)利用線圈產(chǎn)生的磁通量的變化來(lái)測(cè)量被測(cè)物體的厚度。通電的線圈周圍會(huì)產(chǎn)生磁通，當(dāng)線圈靠近被測(cè)量物時(shí)，磁通會(huì)根據(jù)被測(cè)量物的厚度而變化。通過(guò)檢測(cè)該磁通量的變化來(lái)測(cè)量被測(cè)物體的厚度。

5、超聲波膜厚計(jì)

超聲波膜厚計(jì)是利用超聲波反射的膜厚計(jì)。當(dāng)超聲波從被測(cè)物體的表面發(fā)射時(shí)，它會(huì)穿過(guò)物體的內(nèi)部并被背面反射。可以根據(jù)反射發(fā)生所需的時(shí)間來(lái)測(cè)量厚度。

例如，為了測(cè)量玻璃等透明薄膜的厚度，使用使用寬帶光的光譜干涉膜厚計(jì)或使用紅外光的紅外膜厚計(jì)。另一方面，這些類型的膜厚計(jì)不能用于不透光的材料，例如金屬。

測(cè)量金屬電鍍等薄膜時(shí)，使用利用磁通量變化的電磁式膜厚計(jì)和利用渦流的渦流式膜厚計(jì)。此外，如果難以觸摸被測(cè)物體，也可使用超聲波涂層測(cè)厚儀等非接觸式涂層測(cè)厚儀。